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【精选】关于LCR电桥的原理和功能抢先看_LCR数字电桥的适用范围有什么?

来源:http://www.czlipu.com/news/185.html 发布时间:2018-10-02
生活中的很多行业的发展与都是离不开的,有时候一些行业所在的领域都有自己的品牌,今天就特地给大家介绍一下常州中立普精密电子有限公司

LCR电桥首先由信号源发生一个一定频率和幅度的正弦交流信号,这个信号加到被测件DUT上产生电流流到虚地“0V”,由于运放输入电流为零,所以流过DUT的电流完全流过Rr,最后根据欧姆定律DUT的阻抗:Z = V1*Rr/V2。因为运算放大器虚地功能的引入,使这种测量方法的精度和抗干扰能力产生了质的飞跃。功能如下:

1、测量的参数:L-Q,C-D,R-D和Z-Q

2、清零校正功能

3、显示方式:直接读数显示

4、量程保持功能:在批量测试具有相同标称值元件时LCR,关于LCR电桥的原理和功能抢先看该功能可有效提高测量速度

5、等效方式:串联或者并联等效方式结果输出

6、数据保持:该功能能够将测试数据结果保持在屏幕上

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1.精确的陶瓷电容测量

1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征,同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度,六位分辨率和自动电平控制(ALC)功能等,中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。

2.液晶单元的电容特性测量

电容-电压(C-Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法,常规仪器测量液晶单元的C-Vac特性遇到一个问题是******测试电压不够。使用扩展测量选件可提供分辨率为1%及最高达20Vms的可编程测试信号电平,使它能在******条电桥件LCR数字电桥的适用范围有什么?下进行液晶材料的电容特性测量。 

3.半导体材料和元件的测量

进行MOS型半导体制造工艺评价时,需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数,这些可从C-Vdc特性的测量结果推导出来。通过提供的直流源,结合各种扫描功能,可以方便地完成C-VDC特性的测量。为了测试晶圆上的半导体器件,需要延伸电缆和探头,仪器的1m/2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至最小。

4.各种二极管、三极管、MOS管的分布电容也是本仪器的测试内容。

从上面我们可以看出LCR数字电桥的适用范围相当广泛,LCR数字电桥使用内部/外部直流偏置,结合各种扫描测试功能,可以精确地分析磁性材料、电感器件的性能。值得一提的是如今的数字电桥多参数同时显示可满足复杂元件各种分布参数的全面观察与评估要求,而不必反复切换测量参数!

以上所介绍的几点就是有关“LCR数字电桥的适用范围有什么?”的,相信看了本文的介绍后,对这方面也会有自己的一番认识,以后针对等问题也能很好的解决。在这里,我们推荐您多了解、常州中立普精密电子有限公司等有关的讯息,希望对您有所帮助!

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