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【图文】LCR数字电桥使用故障总结 LCR测试仪的用途

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【图文】LCR数字电桥使用故障总结 LCR测试仪的用途

发布时间 : 2016-07-01
来源:http://www.czlipu.com/news/84.html

LCR数字电桥使用故障总结 LCR测试仪的用途?今天直流电阻测试仪要给大家介绍的就是这方面的内容,希望大家通过本文的介绍,可以对LCR数字电桥使用故障总结等方面的内容有一定的认识与了解,下面就跟随常州中立普精密电子有限公司的专家一同来看一下相关的内容简介吧

【图文】LCR数字电桥使用故障总结 LCR测试仪的用途

LCR数字电桥可用“锁定”键按以下方法将量程锁定,以加快测量时间,提高仪器的使用寿命。LCR数字电桥可自动置于电感、电容测量档,并联等效及1KHz频率状态。有标准接口,可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档,已经实现了多功能、高速、集成化的发展目标。目前,LCR数字电桥的研发技术还在不断的改进中。

LCR数字电桥可最大程度满足现有条件测试:10Hz~300kHz,共计12万点,最高到300kHz的测试频率,0.01V至2.00V的任意电平,内置和外部可输入的直流偏置,最大200次平均,14档分选结果输出。支持最高115200波特率,可通过计算机更快捷的控制仪器所有功能,更能通过客户端软件的设计完成数据统计分析和打印测试结果等功能。

对于LCR数字电桥的使用来说,正确的选择所需要的电阻频率很重要。我们需要知道几个选择的规则。电容小于2nF,选择,选择串联1KHz,选用高的测试信号可提高测试精度,同样能量测大于1000μF以上电容。电感小于2mH,用串联1KHz,选择高测试频率可提高测试精度。电感大于200H,并联,120Hz,选择低测试频率可提高测试精度。电阻大于等于 1K Ω,选择并联120Hz(100Hz),选择低频减少交流影响,选择“并联”,是因为量测过程中出现电抗部份,等效为被测件并联一个电容呈现的高电抗,用并联模式减小这种影响,如果Q<0.1,已存在小电容影响。

我公司是一家集LCR数字电路、电阻测试仪、热敏电阻测试仪、电容测试仪、自动化生产设备的科研开发、生产、销售于一体的高新技术企业。为了更好地满足客户需求,我们将会在产品的质量与研发上提升LCR,LCR数字电桥使用故障总结不断创新。

您或许想要了解LCR数字电桥如何选择串联和并联参数?

电容C,电感L,电阻R是电子工程师在产品设计中最常用的电子元器件。作为常见的小小的被动器件,确影响着电路的参数,也直接牵扯的电子产品的优劣。所以对于每个元器件(电容/电感/电阻),我们要了解其特性参数,也需要时刻准确测量到这些参数。LCR测试仪就是用来测试元器件(电容/电感/电阻)参数的。在一般情况下,电阻只要测量其直流电阻值就可以了,这样可以使用万用表或者电阻测试仪。LCR测试仪就是采用交流电进行测量。对于交流电而言,电压V与电流I的比值是阻抗Z,直流方式下的电阻R只需用‘大小’来表示,而阻抗Z确包含了‘大小’和‘相位’两个要素,在数学上用复数和矢量来表示。

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